Informática práctica Enseñanza asistida por ordenador

ADVANCED TEST METHODS FOR SRAMS

Por ALBERTO BOSIO

Estado: DE 2ª MANO (BUENO)

Vendido por World Wide Books

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Sinopsis

Basics on SRAM Testing.- Resistive-Open Defects in Core-Cells.- Resistive-Open Defects in Pre-charge Circuits.- Resistive-Open Defects in Address Decoders.- Resistive-Open Defects in Write Drivers.- Resistive-Open Defects in Sense Amplifiers.- Faults Due to Process Variations in SRAMs.- Diagnosis and Design-for-Diagnosis.

Especificaciones del producto

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